发明公开
CN107051979A 一种紫外光清洗基板的方法及系统
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种紫外光清洗基板的方法及系统
- 专利标题(英): Method and system for cleaning substrate with ultraviolet light
-
申请号: CN201710322442.1申请日: 2017-05-09
-
公开(公告)号: CN107051979A公开(公告)日: 2017-08-18
- 发明人: 井杨坤 , 丁甲 , 赵卓寒
- 申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥京东方光电科技有限公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路10号;
- 专利权人: 京东方科技集团股份有限公司,合肥京东方光电科技有限公司
- 当前专利权人: 京东方科技集团股份有限公司,合肥京东方光电科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路10号;
- 代理机构: 北京同达信恒知识产权代理有限公司
- 代理商 郭润湘
- 主分类号: B08B7/00
- IPC分类号: B08B7/00 ; B08B11/04
摘要:
本申请提供了一种紫外光清洗基板的方法及系统,用以在有效去除黏附于基板表面的有机物时不损伤基板,本申请提供的一种紫外光清洗基板的方法包括:将基板划分为至少两个区域,检测所述基板上各个区域的有机物残留量并确定各个区域的位置;根据所述各个区域的有机物残留量,确定清洗各个区域的紫外光辐射量;根据确定的清洗各个区域的紫外光辐射量和各个区域的位置,清洗所述基板。
公开/授权文献
- CN107051979B 一种紫外光清洗基板的方法及系统 公开/授权日:2020-08-07