Invention Grant
CN107091795B 粒子检测系统以及粒子的检测方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 粒子检测系统以及粒子的检测方法
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Application No.: CN201710076089.3Application Date: 2017-02-13
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Publication No.: CN107091795BPublication Date: 2019-12-27
- Inventor: 古谷雅 , 小原太辅
- Applicant: 阿自倍尔株式会社
- Applicant Address: 日本东京都千代田区丸之内2丁目7番3号
- Assignee: 阿自倍尔株式会社
- Current Assignee: 阿自倍尔株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京都千代田区丸之内2丁目7番3号
- Agency: 上海华诚知识产权代理有限公司
- Agent 肖华
- Priority: 2016-029142 2016.02.18 JP
- Main IPC: G01N15/00
- IPC: G01N15/00

Abstract:
本发明提供一种可应对测定环境的变化的粒子检测系统以及粒子的检测方法。本发明的粒子检测系统包括:流路(2),其供含有粒子的样品液流动;检查装置(100),其包括光源、光检测部及去噪滤波器,所述光源对样品液照射检查光,所述光检测部对由被照射到检查光的粒子产生的反应光进行检测并发出测定信号,所述去噪滤波器从测定信号中去除噪声;流量计(200),其测定样品液的流量;输出装置(401),其输出测定出的流量;输入装置(402),其接受去噪滤波器要去除的噪声的频率的设定;以及控制部(301),其按照来自输入装置(402)的输入来控制去噪滤波器要去除的噪声的频率。
Public/Granted literature
- CN107091795A 粒子检测系统以及粒子的检测方法 Public/Granted day:2017-08-25
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