- 专利标题: 一种多波长与宽温度太赫兹激光功率计的校准方法
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申请号: CN201710343651.4申请日: 2017-05-16
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公开(公告)号: CN107144345B公开(公告)日: 2019-08-13
- 发明人: 张鹏 , 董杰 , 韩顺利 , 龚侃 , 吴寅初
- 申请人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 申请人地址: 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 当前专利权人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 当前专利权人地址: 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号
- 代理机构: 济南圣达知识产权代理有限公司
- 代理商 张勇
- 主分类号: G01J1/42
- IPC分类号: G01J1/42
摘要:
本发明涉及,一种多波长与宽温度太赫兹激光功率计的校准装置及方法,该方法基于所述装置,该方法包括:(1)测试太赫兹激光功率计的输入功率与示值电压之间的线性关系;(2)根据步骤(1)中输入功率与示值电压之间的线性关系,设置一组太赫兹源的工作波长,测试太赫兹激光功率计在不同波长下的校正因子;(3)根据步骤(1)中输入功率与示值电压之间的线性关系,设置一组环境温度,测试太赫兹激光功率计在不同温度下的校正因子;计算得到温度校正因子β与环境温度T的线性关系;(4)校准太赫兹激光功率计在测试波长和环境温度时的测试功率。本发明提高了太赫兹激光功率计在不同环境温度的测试准确度,降低太赫兹激光功率计的波长校准误差,提高校准效率。
公开/授权文献
- CN107144345A 一种多波长与宽温度太赫兹激光功率计的校准装置与方法 公开/授权日:2017-09-08