- 专利标题: 一种7050铝合金表面形成纳米晶的检测方法
- 专利标题(英): Detection method of nano crystals formed on surface of 7050 aluminum alloy
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申请号: CN201710455789.3申请日: 2017-06-16
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公开(公告)号: CN107192728A公开(公告)日: 2017-09-22
- 发明人: 陈浩天 , 曹宇鹏 , 花国然 , 王恒 , 蒋苏州 , 张立虎 , 周锐 , 戴立新 , 陈贻平 , 朱珉睿
- 申请人: 南通大学
- 申请人地址: 江苏省南通市崇川区啬园路9号
- 专利权人: 南通大学
- 当前专利权人: 南通大学
- 当前专利权人地址: 江苏省南通市崇川区啬园路9号
- 代理机构: 北京科家知识产权代理事务所
- 代理商 陈娟
- 主分类号: G01N23/20
- IPC分类号: G01N23/20
摘要:
本发明公开了一种7050铝合金表面形成纳米晶的检测方法,包括以下步骤:制备若干块7050铝合金样品并对其进行相同工艺、不同工艺参数下的极端塑性应变;通过X射线衍射,得到X射线衍射图;绘制同一特定衍射晶面半高宽随工艺参数变化的曲线图;找出图中的增长拐点,通过透射电镜及电子衍射实验,验证增长拐点处所对应的极端塑性应变的工艺参数为7050铝合金表面形成纳米晶的最小工艺参数;绘制同一非特定衍射晶面半高宽随功率密度变化曲线图,对比透射电镜及电子衍射实验,排除非特定衍射晶面的半高宽数据。本发明采用超过最小工艺参数的工艺参数对7050铝合金进行极端塑性应变,在7050铝合金表面形成纳米晶,无需破坏材料表面进行检测,适用于实际生产过程。
公开/授权文献
- CN107192728B 一种7050铝合金表面形成纳米晶的检测方法 公开/授权日:2020-04-03