- 专利标题: 绕组主绝缘温度梯度与频率响应关联性测试装置
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申请号: CN201710338343.2申请日: 2017-05-15
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公开(公告)号: CN107192925B公开(公告)日: 2018-05-08
- 发明人: 周利军 , 唐浩龙 , 何健 , 王朋成 , 梅诚 , 郭蕾 , 徐晗 , 王路伽 , 蔡君懿
- 申请人: 西南交通大学
- 申请人地址: 四川省成都市高新西区西部园区西南交通大学科学技术发展研究院
- 专利权人: 西南交通大学
- 当前专利权人: 西南交通大学
- 当前专利权人地址: 四川省成都市高新西区西部园区西南交通大学科学技术发展研究院
- 代理机构: 成都盈信专利代理事务所
- 代理商 张澎
- 主分类号: G01R31/12
- IPC分类号: G01R31/12
摘要:
本发明涉及一种绕组主绝缘温度梯度与频率响应关联性测试装置,包括实验箱、高压侧直流电源模块、低压侧直流电源模块、流速控制采集模块、实验箱、温度传感器、温度采集模块、介电谱测试仪及计算机,其中,高压绕组、低压绕组和绕组主绝缘位于实验箱内。本发明通过高、低压侧直流电源模块的各段输出功率,模拟变压器在实际负载损耗下绕组主绝缘的温度梯度分布,运用介电谱测试仪测量绕组的频率响应,通过计算机数据处理,探究绕组主绝缘的温度梯度和频率响应之间的关联性,有助于进一步了解变压器内部的绝缘状态。
公开/授权文献
- CN107192925A 绕组主绝缘温度梯度与频率响应关联性测试装置 公开/授权日:2017-09-22