发明授权
CN107219002B 一种超高分辨率光谱测量方法及系统
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种超高分辨率光谱测量方法及系统
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申请号: CN201710255847.8申请日: 2017-04-19
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公开(公告)号: CN107219002B公开(公告)日: 2019-07-23
- 发明人: 张驰 , 张新亮 , 段玉华 , 陈燎 , 周海东 , 周希
- 申请人: 华中科技大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 代理机构: 北京众达德权知识产权代理有限公司
- 代理商 刘杰
- 主分类号: G01J3/45
- IPC分类号: G01J3/45 ; G01N21/25
摘要:
本发明公开了一种基于全光傅里叶变换及双光学频率梳时域干涉的超高分辨率光谱测量方法及系统,方法为两个光学频率梳光源产生两路具有微小重复频率差的超短脉冲序列;一路超短脉冲通过色散作用得到扫频泵浦脉冲序列,并基于四波混频原理构成时域透镜;利用时域透镜的傅里叶变换功能对待测光信号进行波长到时间的转换;所得携带了待测光谱信息的光信号通过波长统一后与另一路超短脉冲进行干涉叠加;所得干涉信号转换为电信号并经过后续处理即可得到待测光信号的光谱。本发明能实现超高的光谱分辨率,适用于测量任意形式的光信号,且有效地降低了系统成本。
公开/授权文献
- CN107219002A 一种超高分辨率光谱测量方法及系统 公开/授权日:2017-09-29