Invention Grant
CN107228710B 一种发光二极管量子效率测量装置及其测量方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种发光二极管量子效率测量装置及其测量方法
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Application No.: CN201710383842.3Application Date: 2017-05-26
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Publication No.: CN107228710BPublication Date: 2018-08-07
- Inventor: 陈忠 , 张汝京 , 林思棋 , 施天谟 , 吕毅军 , 林岳
- Applicant: 厦门大学 , 昇瑞光电科技(上海)有限公司
- Applicant Address: 福建省厦门市思明南路422号
- Assignee: 厦门大学,昇瑞光电科技(上海)有限公司
- Current Assignee: 厦门大学,昇瑞光电科技(上海)有限公司
- Current Assignee Address: 福建省厦门市思明南路422号
- Agency: 厦门南强之路专利事务所
- Agent 马应森
- Main IPC: G01J3/28
- IPC: G01J3/28 ; G01J5/22
Abstract:
一种发光二极管量子效率测量装置及其测量方法,涉及发光二极管。装置设有计算机、数字电源表、温度控制源表、温控夹具、光谱仪和红外热像仪。测量方法:采用发光二极管量子效率测量装置;由温度控制源表设定一组温度值T,设定的一组温度值至少包含5个不同的温度值T;按温度值和电流值测量得到不同温控夹具温度值TS下的发光二极管的一组量子效率η;通过所测得的一组量子效率η,先画出不同电流值I条件下量子效率η与温度T的关系图;通过公式获得消除热影响情况下的量子效率(η′)。
Public/Granted literature
- CN107228710A 一种发光二极管量子效率测量装置及其测量方法 Public/Granted day:2017-10-03
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