- 专利标题: 基于连续激光多角度散射测量的球形颗粒分形聚集特征参数的反演方法
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申请号: CN201710441106.9申请日: 2017-06-13
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公开(公告)号: CN107271336B公开(公告)日: 2019-07-09
- 发明人: 贺振宗 , 毛军逵 , 韩省思 , 刘方圆
- 申请人: 南京航空航天大学
- 申请人地址: 江苏省南京市秦淮区御道街29号
- 专利权人: 南京航空航天大学
- 当前专利权人: 南京航空航天大学
- 当前专利权人地址: 江苏省南京市秦淮区御道街29号
- 代理机构: 南京瑞弘专利商标事务所
- 代理商 杨晓玲
- 主分类号: G01N15/02
- IPC分类号: G01N15/02 ; G01N15/00 ; G06N3/00
摘要:
本发明提供一种基于连续激光多角度散射测量的球形颗粒分形聚集特征参数的反演方法,旨在获得一种测量悬浮球形颗粒分形聚集特征参数的方法。实验中用连续激光照射颗粒系一侧表面,用探测器测量颗粒系另一侧多角度散射测量信号,同时用粒度分析仪测量得到球形颗粒的粒径分布,利用傅里叶光谱分析仪、Mie散射理论、Kramers‑Kranigs关系式及人工蜂群优化算法获得球形颗粒光学常数,最后基于多角度散射测量信号结合逆问题求解技术间接得到球形颗粒分形聚集特征参数。本发明通过建立测量球形颗粒分形聚集特征参数的正、逆问题模型,在已知颗粒其他物性参数的前提下,提出了运用多体T矩阵理论模型结合人工蜂群优化算法反演获得球形颗粒分形聚集特征参数的方法。
公开/授权文献
- CN107271336A 基于连续激光多角度散射测量的球形颗粒分形聚集特征参数的反演方法 公开/授权日:2017-10-20