发明公开
- 专利标题: 一种元素定量分析方法及装置
- 专利标题(英): Method and device for quantitative analysis of element
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申请号: CN201710550399.4申请日: 2017-07-06
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公开(公告)号: CN107340284A公开(公告)日: 2017-11-10
- 发明人: 曾庆栋 , 余华清 , 童菊芳 , 王波云 , 熊良斌 , 肖永军 , 宣文静 , 张珍云 , 吕昊 , 丁么明
- 申请人: 湖北工程学院
- 申请人地址: 湖北省孝感市孝南区交通大道272号
- 专利权人: 湖北工程学院
- 当前专利权人: 武汉虹石科技有限公司
- 当前专利权人地址: 430073 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区东信路光谷创业街10栋(原3)1单元1层01室2041(自贸区武汉片区)
- 代理机构: 北京超凡志成知识产权代理事务所
- 代理商 苏胜
- 主分类号: G01N21/71
- IPC分类号: G01N21/71
摘要:
本发明实施例提供一种元素定量分析方法及装置,属于光谱分析技术领域。该元素定量分析方法首先获取定标样品集中的每个样品的待测元素的浓度和待测元素的至少两条目标谱线的谱线强度,然后根据预设的每条目标谱线的权重系数和每个样品中每条目标谱线的谱线强度,计算每个样品中待测元素的加权谱线强度,最后再根据每个样品中待测元素的浓度和计算得到的每个样品中待测元素的加权谱线强度进行线性拟合,确定用于对该待测元素定量分析的定标曲线。这种元素定量分析方法采用多条谱线进行加权处理,避免了单条谱线在定量分析中,因等离子体的波动或外界干扰引起的谱线波动,而造成的分析不准确,有效的提高了系统的分析准确度和稳定性。
公开/授权文献
- CN107340284B 一种元素定量分析方法及装置 公开/授权日:2018-04-13