发明授权
- 专利标题: 多孔膜的测量
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申请号: CN201580076082.0申请日: 2015-12-18
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公开(公告)号: CN107430054B公开(公告)日: 2020-04-17
- 发明人: K·P·汉弗莱 , R·P·哈芒德
- 申请人: NDC技术有限公司
- 申请人地址: 英国艾塞克斯郡
- 专利权人: NDC技术有限公司
- 当前专利权人: NDC技术有限公司
- 当前专利权人地址: 英国艾塞克斯郡
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 段登新; 钱孟清
- 优先权: 1422964.5 2014.12.22 GB
- 国际申请: PCT/GB2015/054075 2015.12.18
- 国际公布: WO2016/102938 EN 2016.06.30
- 进入国家日期: 2017-08-14
- 主分类号: G01N15/08
- IPC分类号: G01N15/08 ; G01N21/3563 ; G01N21/84 ; G01N21/86 ; G01N21/3559
摘要:
提供了一种测量移动多孔膜的性质(诸如真实厚度、孔隙度和密度)的原位方法。该方法使用多孔膜在多个IR波长处的透射率的测量,该膜在这些IR波长处基本上没有呈现出吸收。该方法因此提供了与散射相关的测量。从该测量,可直接或间接地确定多孔膜的参数。
公开/授权文献
- CN107430054A 多孔膜的测量 公开/授权日:2017-12-01