• 专利标题: 光扫描装置的扫描轨迹测定方法、扫描轨迹测定装置和图像校准方法
  • 专利标题(英): METHOD FOR MEASURING SCANNING TRAJECTORY OF OPTICAL SCANNING DEVICE, SCANNING TRAJECTORY MEASUREMENT DEVICE, AND IMAGE CALIBRATION METHOD
  • 申请号: CN201580077863.1
    申请日: 2015-03-25
  • 公开(公告)号: CN107430270A
    公开(公告)日: 2017-12-01
  • 发明人: 双木满
  • 申请人: 奥林巴斯株式会社
  • 申请人地址: 日本东京都
  • 专利权人: 奥林巴斯株式会社
  • 当前专利权人: 奥林巴斯株式会社
  • 当前专利权人地址: 日本东京都
  • 代理机构: 北京三友知识产权代理有限公司
  • 代理商 李辉; 于靖帅
  • 国际申请: PCT/JP2015/001701 2015.03.25
  • 国际公布: WO2016/151633 JA 2016.09.29
  • 进入国家日期: 2017-09-14
  • 主分类号: G02B26/10
  • IPC分类号: G02B26/10 A61B1/00 G02B21/06 G02B23/26
光扫描装置的扫描轨迹测定方法、扫描轨迹测定装置和图像校准方法
摘要:
提供如下的光扫描装置的扫描轨迹测定装置:能够容易地减轻杂散光的影响而提高扫描轨迹的测定精度。一种光扫描装置(100)的扫描轨迹测定装置,通过照明光对被照射物进行扫描而生成该被照射物的显示图像,其中,该光扫描装置(100)的扫描轨迹测定装置具有:屏幕(11),其被照明光扫描;以及光位置检测器(12),其检测屏幕(11)上的照明光的照射光点的位置,在屏幕(11)的扫描中通过光位置检测器(12)在规定的多个时间点依次检测照射光点的位置而测定照明光的扫描轨迹。
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