- 专利标题: 一种基于面阵相机芯片的电离辐射计量方法和装置
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申请号: CN201710610045.4申请日: 2017-07-25
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公开(公告)号: CN107450091B公开(公告)日: 2020-01-03
- 发明人: 高能越 , 李少白 , 杨如林 , 王凯莉 , 张旭景
- 申请人: 苏州德锐特成像技术有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市苏州工业园区星湖街328号创意产业园16-A203
- 专利权人: 苏州德锐特成像技术有限公司
- 当前专利权人: 苏州德锐特成像技术有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市苏州工业园区星湖街328号创意产业园16-A203
- 代理机构: 苏州彰尚知识产权代理事务所
- 代理商 潘剑
- 主分类号: G01T1/08
- IPC分类号: G01T1/08 ; G01T1/16
摘要:
本发明涉及一种基于面阵相机芯片的电离辐射计量方法和装置,包括以下步骤:S1:使用面阵相机芯片捕获电离辐射粒子及射线光子,将其转换为数字信号;S2:处理面阵相机芯片产生的数字信号,并且输出电离辐射剂量;S3:将电离辐射剂量进行数字化或图形化显示,本发明采用面阵相机芯片探测电离辐射,可以实现多通道探测,数据输出效率高,并且不含现有技术中的高压转换电路,电路简单可靠,使用方便,可以探测单个电离辐射粒子或射线光子,结合连通域算法和二维高斯分布函数可以实现高精度的电离辐射剂量探测,并且可以探测电离辐射的能量,可以推断当前场景的电离辐射危害等级。
公开/授权文献
- CN107450091A 一种基于面阵相机芯片的电离辐射计量方法和装置 公开/授权日:2017-12-08