发明授权
- 专利标题: 从晶片揭除粘膜的方法及装置
-
申请号: CN201610370074.3申请日: 2016-05-30
-
公开(公告)号: CN107452664B公开(公告)日: 2019-06-21
- 发明人: 贺友华 , 冯奎 , 张有沐 , 王元立 , 朱颂义
- 申请人: 北京通美晶体技术有限公司
- 申请人地址: 北京市通州区工业开发区东二街四号
- 专利权人: 北京通美晶体技术有限公司
- 当前专利权人: 北京通美晶体技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市通州区工业开发区东二街四号
- 代理机构: 北京北翔知识产权代理有限公司
- 代理商 钟守期; 郑建晖
- 主分类号: H01L21/683
- IPC分类号: H01L21/683
摘要:
本发明涉及一种从晶片揭除粘膜的方法,包括下列步骤:将其上带有粘膜的晶片以倾斜状态置于一个晶片支撑台,所述晶片支撑台包括一个底座和一个容纳晶片的倾斜支撑面;使用刀片将晶片上的粘膜从晶片边缘揭起;用一个压片手柄将晶片按压在晶片支撑台上,同时,用镊子将所述粘膜从所述晶片揭除;任选地,在“将其上带有粘膜的晶片以倾斜状态置于一个晶片的支撑台”之后,“使用刀片将晶片上的粘膜从晶片边缘揭起”之前,对置于晶片的支撑台的带有粘膜的晶片作失粘处理。还涉及用于从晶片揭除粘膜的装置。
公开/授权文献
- CN107452664A 从晶片揭除粘膜的方法及装置 公开/授权日:2017-12-08
IPC分类: