• 专利标题: X、Y、Z轴相对判读检测方法及其装置
  • 专利标题(英): Method and apparatus for inspecting by X,Y,Z coordinates
  • 申请号: CN98100846.1
    申请日: 1998-02-24
  • 公开(公告)号: CN1074534C
    公开(公告)日: 2001-11-07
  • 发明人: 李秋山
  • 申请人: 李秋山
  • 申请人地址: 台湾省台北县新店市长春路19巷23号
  • 专利权人: 李秋山
  • 当前专利权人: 李秋山,沈素珍
  • 当前专利权人地址: 台湾省台北县新店市长春路19巷23号
  • 代理机构: 吉林省吉利专利事务所
  • 代理商 王大珠
  • 主分类号: G01C9/14
  • IPC分类号: G01C9/14
X、Y、Z轴相对判读检测方法及其装置
摘要:
本发明公开了一种X、Y、Z轴相对判读检测方法及其装置,其主要是藉由两如不倒翁之上轻下重的内球框(4)与中球框(3)以定位轴承(45)、(36)依不同轴向将其定位于一圆环框(2)内,而使该内球框(4)与中球框(3)可分别呈X轴及Y轴摆动,而于静止时,提供X轴及Y轴两者之XO°+YO°的基准平面,该圆环框(2)是以定位轴承(21)且与中球框定位轴承(36)呈垂直交叉之方向枢设于一设于基座(5)上之外球壳(1)(Z轴)内,Z轴根据轨道上的内球框与中球框两者所共持的平面基准,而可相对判读各角度的平面数据,可检测出一平面或垂直或倾斜的数据,同时藉由设于内球框的指南针(445)可得知一倾斜角的方位。
公开/授权文献
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