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漏光检测方法
Abstract:
本发明提供漏光检测方法,能够容易地检测当照射对于晶片具有透过性的波长的激光光线而形成改质层时到达晶片的下表面的激光光线的漏光。一种漏光检测方法,该漏光检测方法包含如下的工序:涂装工序,利用油性标记对涂装晶片的下表面进行涂装;压接工序,将粘合带压接在晶片的下表面上;改质层形成工序,将对于晶片具有透过性的波长的激光光线的聚光点从晶片的上表面定位在晶片的内部而进行照射从而形成改质层;剥离工序,将所压接的粘合带剥离;以及漏光检测工序,检测涂布在下表面上的涂装因该剥离工序而被去除的区域作为存在漏光的区域。
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