一种离子推力器等离子体鞘层曲率测量方法
Abstract:
本发明公开了一种离子推力器等离子体鞘层曲率测量方法,该测量方法利用鞘层曲面上等离子体密度处处相等和离子束流下游相邻位置的等离子体密度发生突变来测量等离子体密度,从而找出鞘层曲面,并得到鞘层曲率。本发明能够提供一种得到等离子体鞘层曲面的方法,完善了离子推力器栅极系统设计方法,弥补了离子推力器栅极系统的设计未考虑等离子体鞘层曲率影响的问题。
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