发明授权
- 专利标题: 测量电路网络的系统及方法
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申请号: CN201610494101.8申请日: 2016-06-29
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公开(公告)号: CN107543983B公开(公告)日: 2019-11-08
- 发明人: 陈文杰
- 申请人: 联芯科技有限公司 , 大唐半导体设计有限公司
- 申请人地址: 上海市徐汇区钦江路333号41幢4楼;
- 专利权人: 联芯科技有限公司,大唐半导体设计有限公司
- 当前专利权人: 联芯科技有限公司,大唐半导体设计有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市徐汇区钦江路333号41幢4楼;
- 代理机构: 北京品源专利代理有限公司
- 代理商 孟金喆; 胡彬
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00
摘要:
本发明公开了一种测量电路网络的系统及方法。其中,所述方法包括:将满足预设的周期波形特征的基带发射信号予以输出;将基带发射信号调制后发射到待测电路网络中;利用周期波形特征对接收于待测电路网络中的信号进行解调,以得到基带接收信号;利用基带发射信号的周期波形特征,测量并消除基带接收信号的时偏和频偏;通过对消除时偏和频偏后的基带接收信号与预生成的参考信号的信号匹配,测量电路网络的非线性函数;其中,参考信号是基于基带接收信号频率f'a、基带接收信号的周期波形特征预先生成的。本发明有效减少了现有测量系统对现有测试仪器的硬件改进,并有效提高了测量速度。
公开/授权文献
- CN107543983A 测量电路网络的系统及方法 公开/授权日:2018-01-05