发明授权
- 专利标题： 一种校正杂散射线的方法
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申请号： CN201710776974.2申请日： 2017-08-31
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公开(公告)号： CN107595314B公开(公告)日： 2020-12-25
- 发明人: 季敏
- 申请人： 上海联影医疗科技股份有限公司
- 申请人地址： 上海市嘉定区城北路2258号
- 专利权人： 上海联影医疗科技股份有限公司
- 当前专利权人： 上海联影医疗科技股份有限公司
- 当前专利权人地址： 上海市嘉定区城北路2258号
- 代理机构： 成都七星天知识产权代理有限公司
- 代理商 杨永梅
- 主分类号： A61B6/03
- IPC分类号： A61B6/03
摘要：
本发明公开了一种校正杂散射线的方法，该方法包括获取探测器第一通道上的第一信号；获取探测器第二通道上的第二信号；基于该第二信号，确定来自散射线在该探测器第一通道的第一投影值；以及基于该第一信号和第一投影值，确定主射线在该探测器第一通道上的第二投影值，所述主射线和所述散射线来自于同一射线源。该方法通过校正杂散射线，减少或消除了杂散射线导致的图像伪影，提高了成像的质量。
公开/授权文献
- CN107595314A 一种校正杂散射线的方法 公开/授权日：2018-01-19
