基于啁啾强度调制的光矢量分析方法及装置
摘要:
本发明公开了一种基于啁啾强度调制的光矢量分析方法。本发明以啁啾强度调制光双边带信号作为探测光通过待测光器件,并通过光电探测将光信号转换为电信号;通过改变其中双边带信号与光载波之间的相位差来获得不同啁啾强度调制状态的探测光信号,然后利用不同啁啾强度调制状态的探测光信号所得到的电信号的幅相信息与探测光信号之间的关系建立方程组,求解得到待测光器件的幅相响应。本发明还公开了一种基于啁啾强度调制的光矢量分析装置。本发明能够在实现光器件幅相响应高精度测量的同时,避免复杂且相对窄带的单边带调制或载波频移,拓展测量范围一倍,消除残余边带导致的测量误差,消除系统内存在的滤波机制,大幅度降低系统的成本与复杂度。
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