硬盘冷数据校验方法、装置、设备及计算机可读存储介质
摘要:
本发明公开了一种硬盘冷数据校验的方法,包括,实时获取硬盘底板上各个区域的温度参数;判断在第一预设时间周期内,各个所述区域中是否存在温度参数大于预设温度阈值的区域,如果是,则对温度参数大于预设温度阈值的所述区域的数据进行校验;对在第二预设时间周期内,未被校验和恢复各个区域的数据进行校验;其中,所述第一预设时间周期的时长小于所述第二预设时间周期的时长。本发明避免了由于温度过高导致数据发生错误而未及时对错误数据进行校验,并最终导致数据完全不可恢复的问题,提高了数据的安全可靠性。本发明中还公开了一种硬盘冷数据校验的装置、设备及计算机可读存储介质,具有上述有益效果。
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