Invention Publication
- Patent Title: 基于高密度VSP数据的薄地层识别方法及装置
- Patent Title (English): Method and device for thin stratum identification based on high-density VSP data
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Application No.: CN201711146337.3Application Date: 2017-11-17
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Publication No.: CN107831541APublication Date: 2018-03-23
- Inventor: 蔡志东 , 张庆红 , 李彦鹏 , 彭继新 , 王艳华
- Applicant: 中国石油天然气集团公司 , 中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
- Applicant Address: 北京市东城区东直门北大街9号
- Assignee: 中国石油天然气集团公司,中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
- Current Assignee: 中国石油天然气集团公司,中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
- Current Assignee Address: 北京市东城区东直门北大街9号
- Agency: 北京三友知识产权代理有限公司
- Agent 李辉; 刘飞
- Main IPC: G01V1/30
- IPC: G01V1/30

Abstract:
本申请实施例提供了一种基于高密度VSP数据的薄地层识别方法及装置,该方法包括:获取目标区的指定采集密度的VSP数据,并预处理所述VSP数据;分别获取预处理后的VSP数据的VSP频谱曲线及初至振幅导数曲线;将所述VSP频谱曲线及所述初至振幅导数曲线相乘,获取联合曲线;根据所述联合曲线获得所述目标区的地层识别结果。本申请实施例可提高薄层识别的分辨率。
Public/Granted literature
- CN107831541B 基于高密度VSP数据的薄地层识别方法及装置 Public/Granted day:2019-09-10
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