发明公开
- 专利标题: 一种形成不同深度接触孔的刻蚀方法
- 专利标题(英): Etching method for forming contact holes with different depth
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申请号: CN201711219182.1申请日: 2017-11-28
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公开(公告)号: CN107833833A公开(公告)日: 2018-03-23
- 发明人: 韩朋刚 , 习艳军 , 贺可强 , 杨渝书
- 申请人: 上海华力微电子有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号
- 专利权人: 上海华力微电子有限公司
- 当前专利权人: 上海华力微电子有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号
- 代理机构: 上海申新律师事务所
- 代理商 俞涤炯
- 主分类号: H01L21/311
- IPC分类号: H01L21/311 ; H01L21/768
摘要:
一种形成不同深度接触孔的刻蚀方法,本发明通过对部分刻蚀的接触孔结构进行回填,利用深度较大的接触孔部位的离子注入光罩进行二次光刻并进行一定深度的刻蚀,随后再一起进行刻蚀。这种方法可以避免不同深度接触孔同步刻蚀条件下,深度较浅的接触孔过刻蚀量偏大导致的接触孔失效问题。
公开/授权文献
- CN107833833B 一种形成不同深度接触孔的刻蚀方法 公开/授权日:2020-01-21
IPC分类: