本发明公开了一种评估系统单粒子功能失效率的传播分析方法，所述方法通过对电路系统进行模块划分、从单粒子软错误传播的角度，分析单粒子软错误从产生到传播至输出端的概率，最终获得系统的单粒子功能失效率。本发明方法不需要进行重离子试验就可以成功的预测用于太空环境中的电路系统的单粒子功能失效率，为太空环境中设备的选用提供了良好的判断依据，避免出现设备在地面使用良好，而一旦到达太空环境就发生严重的单粒子功能失效现象出现，并且分析结果可以作为对系统和模块做抗辐射加固的依据。