Invention Publication
- Patent Title: 光检测器
- Patent Title (English): PHOTODETECTOR
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Application No.: CN201680048167.2Application Date: 2016-08-26
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Publication No.: CN107924961APublication Date: 2018-04-17
- Inventor: 福田浩 , 龟井新 , 都筑健 , 地蔵堂真 , 菊池清史
- Applicant: 日本电信电话株式会社
- Applicant Address: 日本东京
- Assignee: 日本电信电话株式会社
- Current Assignee: 日本电信电话株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京
- Agency: 北京品源专利代理有限公司
- Agent 吕琳; 朴秀玉
- Priority: 2015-169779 2015.08.28 JP
- International Application: PCT/JP2016/003907 2016.08.26
- International Announcement: WO2017/038072 JA 2017.03.09
- Date entered country: 2018-02-13
- Main IPC: H01L31/10
- IPC: H01L31/10

Abstract:
本发明提供一种降低暗电流而不会有损光电流的锗光检测器。具备:硅基板、形成于硅基板上的下部包层、形成于下部包层上的芯层(210)、形成于芯层(210)的一部分的掺杂了p型杂质离子的p型硅板(211)、高浓度地掺杂了p型杂质并起到作为电极的作用的p++硅电极部(212、213)、以及吸收光的锗层(241、242)。还具备:上部包层、锗层的上部的掺杂了n型杂质的n型锗区域、以及电极。本发明在p型硅板(211)上具备两个锗层(241、242),由此,能通过使各锗层的与p型硅板(211)相接的面积小型化,来削弱由穿透位错导致的暗电流。
Public/Granted literature
- CN107924961B 光检测器 Public/Granted day:2020-03-03
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IPC分类: