发明公开
- 专利标题: 一种能精确控制入射角的分光镜测量方法及装置
- 专利标题(英): Spectroscope measuring method and device capable of accurately controlling incident angle
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申请号: CN201711466441.0申请日: 2017-12-28
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公开(公告)号: CN107941477A公开(公告)日: 2018-04-20
- 发明人: 周少攀 , 薛彬 , 贺应红 , 闫兴涛 , 赵意意 , 吕娟 , 刘生润 , 陈国庆
- 申请人: 中国科学院西安光学精密机械研究所 , 中国科学院大学
- 申请人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所,中国科学院大学
- 当前专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所,中国科学院大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 代理机构: 西安智邦专利商标代理有限公司
- 代理商 杨引雪
- 主分类号: G01M11/02
- IPC分类号: G01M11/02
摘要:
为了解决传统分光镜分光比和反射透射率测量方法光路复杂、误差大的技术问题,本发明提供了一种能精确控制入射角的分光镜测量方法及装置。本发明基于分光镜对部分光反射的特性,利用小孔光阑、五棱镜以及第二平面反射镜自准的方法,降低了测量光路的误差;利用自准直光管垂直入射的方法解决了对45°入射角度基准的标定;利用自准直光管的角度检测功能实现了对分光镜入射角小角度变化的精确控制,当自准直光管精度为1"时,入射角度控制精度可达到0.5"量级。
公开/授权文献
- CN107941477B 一种能精确控制入射角的分光镜测量方法及装置 公开/授权日:2023-12-08