发明公开
- 专利标题: 一种基于阻抗频谱分析的电缆局部缺陷评估的装置和方法
- 专利标题(英): Device and method for evaluating local defect of cable based on impedance spectrum analysis
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申请号: CN201711154670.9申请日: 2017-11-20
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公开(公告)号: CN107942198A公开(公告)日: 2018-04-20
- 发明人: 惠兆宇 , 刘韬 , 魏巍 , 池志远 , 王春晖 , 安英辉 , 李晓蔚 , 张涛 , 刘士立
- 申请人: 广东核电合营有限公司 , 苏州热工研究院有限公司 , 大亚湾核电运营管理有限责任公司 , 中国广核集团有限公司 , 中国广核电力股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市福田区深南大道2002号福中三路中广核大厦17层
- 专利权人: 广东核电合营有限公司,苏州热工研究院有限公司,大亚湾核电运营管理有限责任公司,中国广核集团有限公司,中国广核电力股份有限公司
- 当前专利权人: 广东核电合营有限公司,苏州热工研究院有限公司,大亚湾核电运营管理有限责任公司,中国广核集团有限公司,中国广核电力股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市福田区深南大道2002号福中三路中广核大厦17层
- 代理机构: 苏州创元专利商标事务所有限公司
- 代理商 孙仿卫; 陈婷婷
- 主分类号: G01R31/08
- IPC分类号: G01R31/08 ; G01R27/02
摘要:
本发明涉及传输线阻抗频谱的测量与分析技术领域,具体涉及一种基于阻抗频谱分析的电缆局部缺陷评估的装置和方法,所述装置至少包括信号发生单元、信号采集单元、分析控制单元和数据存储单元,信号发生单元用于向被测电缆的一端发射入射信号以及用于发射参考信号,所述入射信号和所述参考信号具有相同的幅值和相位;所述信号采集单元用于同步的采集所述入射信号和反射信号,所述反射信号为由所述入射信号经过被测电缆后反射的信号,本发明通过扫频方法测量并计算扫频段内被测电缆阻抗的频谱,并在频域内对谱函数进行变换,在变换后的新域中实现对缺陷的定位并评估其严重程度,本发明与现有的电缆故障定位技术相比,抗噪性强、适用性广、可实现定量评估。