- 专利标题: 封装结构及其制作方法、封装缺陷检测方法、OLED器件和显示装置
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申请号: CN201711350463.0申请日: 2017-12-15
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公开(公告)号: CN107946478B公开(公告)日: 2024-05-28
- 发明人: 任锦宇 , 马国靖 , 王祺
- 申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路10号;
- 专利权人: 京东方科技集团股份有限公司,北京京东方显示技术有限公司
- 当前专利权人: 京东方科技集团股份有限公司,北京京东方显示技术有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路10号;
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 潘剑颖
- 主分类号: H10K59/80
- IPC分类号: H10K59/80 ; H10K59/12 ; H10K71/70 ; H10K71/00
摘要:
本公开提供了封装结构及其制作方法、对所述封装结构进行封装缺陷检测的方法、OLED器件和显示装置。所述封装结构包括:第一盖板和第二盖板;封框胶,用于密封第一盖板和第二盖板之间的空间;吸水检测材料,位于封框胶所密封的空间内;第一电极,该第一电极的一端与吸水检测材料的一部分连接,并且该第一电极的另一端延伸到封框胶所密封的空间之外;以及第二电极,该第二电极的一端与吸水检测材料的另一部分连接,并且该第二电极的另一端延伸到封框胶所密封的空间之外。
公开/授权文献
- CN107946478A 封装结构及其制作方法、封装缺陷检测方法、OLED器件和显示装置 公开/授权日:2018-04-20