发明公开
CN107991315A 表面缺陷检测设备
无效 - 驳回
- 专利标题: 表面缺陷检测设备
- 专利标题(英): Surface detect detection equipment
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申请号: CN201711435585.X申请日: 2017-12-26
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公开(公告)号: CN107991315A公开(公告)日: 2018-05-04
- 发明人: 董宁 , 陈益思 , 黄庆
- 申请人: 华测检测认证集团股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市宝安区70区鸿威工业园C栋
- 专利权人: 华测检测认证集团股份有限公司
- 当前专利权人: 华测检测认证集团股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市宝安区70区鸿威工业园C栋
- 主分类号: G01N21/892
- IPC分类号: G01N21/892
摘要:
本发明公开了一种表面缺陷检测设备,其运动系统包括第三滑动机构、相对设置的第一滑动机构及第二滑动机构;第一滑动机构包括第一X滑动机构及第一Y滑动机构,且第一Y滑动机构设于第一X滑动机构上;第二滑动机构包括第二X滑动机构及第二Y滑动机构,且第二Y滑动机构设于第二X滑动机构上;第三滑动机构包括第一Z滑动机构及第二Z滑动机构;其摄像系统包括摄像头、上夹板机构及下夹板机构;上夹板机构装设于第一Z滑动机构上,且为透明结构;下夹板机构设于第二Z滑动机构上,被测球体被夹设于上夹板机构与下夹板机构之间。本发明是一种能够极大地提高检测的精确度、重复性高、方便图像分析和打印的表面缺陷检测设备。