- 专利标题: 一种基于微波干涉的二维面形变监测方法及系统
- 专利标题(英): Method and system for monitoring deformation of two-dimensional surface based on microwave interference
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申请号: CN201810087826.4申请日: 2018-01-30
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公开(公告)号: CN108050964A公开(公告)日: 2018-05-18
- 发明人: 刘忠 , 邓峰 , 彭志伟 , 蒋伟明 , 焦润之
- 申请人: 长沙深之瞳信息科技有限公司
- 申请人地址: 湖南省长沙市开福区芙蓉中路一段288号盛大金禧金融中心8楼
- 专利权人: 长沙深之瞳信息科技有限公司
- 当前专利权人: 长沙深之瞳信息科技有限公司
- 当前专利权人地址: 湖南省长沙市开福区芙蓉中路一段288号盛大金禧金融中心8楼
- 代理机构: 长沙楚为知识产权代理事务所
- 代理商 陶祥琲
- 主分类号: G01B15/06
- IPC分类号: G01B15/06 ; G01S13/88
摘要:
本发明提供一种基于微波干涉的二维面形变监测方法及系统,其中形变监测方法包括:S1、选择稳定参考点和目标待测点;S2、求各个点的形变量;S3、误差补偿;S4、求水平位移和竖直位移;S5、形变监测。本发明还提供一种形变监测系统,包括:至少两个微波干涉形变测量雷达、n个稳定参考点、若干个目标待测点、雷达控制系统及远程监测平台;其中:n≥2;雷达控制系统包括误差补偿模块、位移计算模块及形变监测模块。本发明是一种适用于边坡、大坝的形变监测,且安装简便、使用成本低、自动化程度和精度高、监测效果好、不易受干扰的,能通过测量二维面在水平和竖直方向上的形变分量而实现对其稳定性监测的形变监测方法和系统。
公开/授权文献
- CN108050964B 一种基于微波干涉的二维面形变监测方法及系统 公开/授权日:2023-04-18