发明公开
CN108091555A 一种半导体器件的制造方法
无效 - 驳回
- 专利标题: 一种半导体器件的制造方法
- 专利标题(英): Manufacturing method of semiconductor device
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申请号: CN201611037641.X申请日: 2016-11-23
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公开(公告)号: CN108091555A公开(公告)日: 2018-05-29
- 发明人: 任佳 , 张翼英 , 张海洋
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 , 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 代理机构: 北京市磐华律师事务所
- 代理商 董巍; 高伟
- 主分类号: H01L21/28
- IPC分类号: H01L21/28
摘要:
本发明提供一种半导体器件的制造方法,涉及半导体技术领域。该方法包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成若干间隔排列的核;形成间隙壁材料层,以覆盖所述核以及所述半导体衬底,且使相邻所述核之间的所述间隙壁材料层围成开口;形成牺牲材料层,以填充所述开口;进行第一等离子体注入,以改性位于所述核顶面上的所述间隙壁材料层,形成第一改性的间隙壁材料层;去除所述牺牲材料层以及所述第一改性的间隙壁材料层;去除所述间隙壁材料层位于所述开口底部的部分,以在所述核的侧壁上形成间隙壁;去除所述核。本发明的制造方法,增大了工艺窗口,改善了奇数-偶数性能。
IPC分类: