一种半导体器件的制造方法
摘要:
本发明提供一种半导体器件的制造方法,涉及半导体技术领域。该方法包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成若干间隔排列的核;形成间隙壁材料层,以覆盖所述核以及所述半导体衬底,且使相邻所述核之间的所述间隙壁材料层围成开口;形成牺牲材料层,以填充所述开口;进行第一等离子体注入,以改性位于所述核顶面上的所述间隙壁材料层,形成第一改性的间隙壁材料层;去除所述牺牲材料层以及所述第一改性的间隙壁材料层;去除所述间隙壁材料层位于所述开口底部的部分,以在所述核的侧壁上形成间隙壁;去除所述核。本发明的制造方法,增大了工艺窗口,改善了奇数-偶数性能。
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