发明公开
- 专利标题: CT检查系统和CT成像方法
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申请号: CN201711451912.0申请日: 2017-12-28
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公开(公告)号: CN108120729A公开(公告)日: 2018-06-05
- 发明人: 康克军 , 李荐民 , 倪秀琳 , 李玉兰 , 李元景 , 陈志强 , 张丽 , 李亮 , 邹湘 , 喻卫丰 , 周合军 , 宗春光
- 申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清华园
- 专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华园
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 马艳苗
- 主分类号: G01N23/04
- IPC分类号: G01N23/04
摘要:
本发明涉及CT检测技术领域,特别涉及一种CT检查系统和CT成像方法。本发明所提供的CT检查系统,包括放射源装置、探测装置、旋转监控装置和成像装置,其中:探测装置获取探测数据的频率为放射源装置出束频率的N倍;旋转监控装置检测探测装置的旋转角度并在探测装置每旋转预设角度时向成像装置发送信号;成像装置根据旋转监控装置所发送的信号以及探测装置的探测数据确定放射源装置每次出束时探测装置的转动位置信息,并基于放射源装置每次出束时探测装置的探测数据及转动位置信息生成CT图像。本发明能够较为准确地确定放射源装置每次出束时探测装置的转动位置信息,从而可以有效减少图像形变,提高检测结果的准确性。
公开/授权文献
- CN108120729B CT检查系统和CT成像方法 公开/授权日:2024-04-02