发明授权
- 专利标题: 互连结构及其形成方法
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申请号: CN201611076275.9申请日: 2016-11-29
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公开(公告)号: CN108122821B公开(公告)日: 2021-05-04
- 发明人: 邓浩
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 , 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江路18号;
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江路18号;
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 吴敏
- 主分类号: H01L21/768
- IPC分类号: H01L21/768 ; H01L23/532
摘要:
一种互连结构及其形成方法,其中形成方法包括:提供基底;在所述基底上形成介质层;在所述介质层内形成导电结构;在所述导电结构和所述介质层上形成盖帽层,所述盖帽层为Si掺杂的盖帽层;对所述导电结构和所述盖帽层进行退火处理。本发明技术方案中,所述盖帽层为Si掺杂的盖帽层。所述盖帽层中的Si原子,能够与导电结构的材料反应成键,从而提高所述盖帽层和所述导电结构之间的连接强度,有利于抑制所形成互连结构的电迁移,有利于提高所形成互连结构的可靠性。
公开/授权文献
- CN108122821A 互连结构及其形成方法 公开/授权日:2018-06-05
IPC分类: