发明授权
- 专利标题: 位移检测装置和光学检测装置
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申请号: CN201680060623.5申请日: 2016-07-26
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公开(公告)号: CN108139191B公开(公告)日: 2020-06-30
- 发明人: 藤田雅博 , 河田匡史 , 近藤公男 , 坂井照将
- 申请人: 松下神视株式会社
- 申请人地址: 日本爱知县
- 专利权人: 松下神视株式会社
- 当前专利权人: 松下机电株式会社
- 当前专利权人地址: 日本大阪
- 代理机构: 北京奉思知识产权代理有限公司
- 代理商 吴立; 邹轶鲛
- 优先权: 2015-204079 2015.10.15 JP
- 国际申请: PCT/JP2016/071927 2016.07.26
- 国际公布: WO2017/064899 JA 2017.04.20
- 进入国家日期: 2018-04-16
- 主分类号: G01B5/00
- IPC分类号: G01B5/00 ; G01B11/00 ; G01B21/00
摘要:
一种位移检测装置,包括:多个控制单元,每个控制单元均包括显示单元,该显示单元被配置为基于所述传感器头的检测信号显示测量值;操作键,其设置在各个控制单元中,并且能够在若干初始设定项目的每个初始设定项目中设定初始设定值;以及控制器,该控制器设置在各个控制单元中,并且具有基于操作键的操作将初始设定值从控制单元的主设备复制到控制单元的从设备的功能。在控制器和操作键中设置选择装置(17),用于在各初始设定项目的初始设定值的设定操作时选择是否复制相关初始设定项目的初始设定值。
公开/授权文献
- CN108139191A 位移检测装置和光学检测装置 公开/授权日:2018-06-08