Invention Publication
- Patent Title: 显示子系统的测试
- Patent Title (English): Testing of display subsystems
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Application No.: CN201680054779.2Application Date: 2016-08-30
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Publication No.: CN108140343APublication Date: 2018-06-08
- Inventor: R·古拉堤 , J·C·K·王 , P·布扬 , S·古普塔 , H·J·沙阿
- Applicant: 高通股份有限公司
- Applicant Address: 美国加利福尼亚州
- Assignee: 高通股份有限公司
- Current Assignee: 高通股份有限公司
- Current Assignee Address: 美国加利福尼亚州
- Agency: 北京律盟知识产权代理有限责任公司
- Agent 杨林勳
- Priority: 14/864,348 2015.09.24 US
- International Application: PCT/US2016/049465 2016.08.30
- International Announcement: WO2017/053029 EN 2017.03.30
- Date entered country: 2018-03-21
- Main IPC: G09G3/00
- IPC: G09G3/00

Abstract:
一种显示系统的显示处理器可接收包含测试图案的图像。输入校验和可与所述测试图案相关联。所述显示处理器的硬件单元可处理所述图像。所述显示系统可至少部分地基于处理所述图像之后的所述测试图案产生输出校验和。所述显示系统可基于确定所述输入校验和和所述输出校验和之间的差而检测所述显示处理器的所述硬件单元中的故障。
Public/Granted literature
- CN108140343B 用于测试显示系统的方法和设备 Public/Granted day:2019-04-09
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