发明公开
CN108169254A 检查设备和检查方法
无效 - 驳回
- 专利标题： 检查设备和检查方法
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申请号： CN201611116487.5申请日： 2016-12-07
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公开(公告)号： CN108169254A公开(公告)日： 2018-06-15
- 发明人: 康克军 , 程建平 , 陈志强 , 赵自然 , 李君利 , 王学武 , 曾志 , 曾鸣 , 王义 , 张清军 , 顾建平 , 易茜 , 刘必成 , 徐光明 , 王永强
- 申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区清华园1号;
- 专利权人： 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人： 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区清华园1号;
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 王波波
- 主分类号： G01N23/04
- IPC分类号： G01N23/04 ; G01N23/06 ; G01N23/20
摘要：
公开了一种检查设备和检查方法。该检查方法包括步骤：对被检查物体进行X射线扫描以产生被检查物体的图像；对所述被检查物体的图像进行分割以确定至少一个感兴趣区域；探测宇宙射线与所述感兴趣区域的相互作用，得到探测值；基于所述感兴趣区域的尺寸信息和所述探测值计算宇宙射线在所述感兴趣区域的散射特性值和/或吸收特性值；以及利用所述散射特性值和/或吸收特性值分辨所述感兴趣区域的材料属性。利用上述方案，能够对提高检查的准确性和检查效率。