发明公开
- 专利标题: 刻蚀设备
- 专利标题(英): Etching equipment
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申请号: CN201711383263.5申请日: 2017-12-20
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公开(公告)号: CN108172531A公开(公告)日: 2018-06-15
- 发明人: 董磊磊
- 申请人: 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道666号光谷生物创新园C5栋305室
- 专利权人: 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
- 当前专利权人: 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道666号光谷生物创新园C5栋305室
- 代理机构: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司
- 代理商 孙伟峰
- 主分类号: H01L21/67
- IPC分类号: H01L21/67 ; G06F3/041
摘要:
本发明提供一种刻蚀设备,所述刻蚀设备包括密封罩、承载板、挡板、边框以及多个第一排气结构,所述承载板、挡板及边框位于所述密封罩内,所述边框和所述挡板设于所述承载板上,所述挡板位于所述边框的中间并与所述边框围合成两个收容部,所述两个收容部用于放置触摸面板,所述多个第一排气结构环绕所述边框设置,所述多个第一排气结构用于将密封罩中的空气排出。本发明提出的刻蚀设备包括多个第一排气结构,在干法刻蚀时,可以通过多个第一排气结构促进密封罩内的工艺气体的流动,使得工艺气体均匀分布在密封罩内,从而优化刻蚀环境、提高刻蚀均一性以及提升产品良率。
公开/授权文献
- CN108172531B 刻蚀设备 公开/授权日:2021-01-15
IPC分类: