Invention Publication
- Patent Title: 一种有机外绝缘表面形貌分析方法及装置
- Patent Title (English): Method and device for analyzing appearance of organic external insulation surface
-
Application No.: CN201711473126.0Application Date: 2017-12-29
-
Publication No.: CN108226573APublication Date: 2018-06-29
- Inventor: 高岩峰 , 卢毅 , 陈原 , 李炜 , 丁斌 , 李鑫 , 张旭 , 范硕超 , 王馨 , 王珣 , 龚延兴 , 王辉 , 张吉飞 , 龚志峰 , 王勇 , 康铁锋 , 杨静 , 王书渊 , 贾立宁
- Applicant: 国网冀北电力有限公司张家口供电公司 , 华北电力科学研究院有限责任公司 , 国网冀北电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网公司
- Applicant Address: 河北省张家口市五一路131号; ; ;
- Assignee: 国网冀北电力有限公司张家口供电公司,华北电力科学研究院有限责任公司,国网冀北电力有限公司电力科学研究院,国家电网公司
- Current Assignee: 国网冀北电力有限公司张家口供电公司,华北电力科学研究院有限责任公司,国网冀北电力有限公司电力科学研究院,国家电网公司
- Current Assignee Address: 河北省张家口市五一路131号; ; ;
- Agency: 北京三友知识产权代理有限公司
- Agent 贾磊; 刘淼
- Main IPC: G01Q60/24
- IPC: G01Q60/24

Abstract:
本发明提供了一种有机外绝缘表面形貌分析方法及装置,涉及电力系统技术领域。方法包括:获得测量平面内有机外绝缘表面扫描数据,并设置投影平面;根据迭代参数确定分形结构判断立方体;覆盖到投影平面,并确定投影面积是否大于测量平面在投影平面的投影面积;若小于等于,则进行投影平面分割,确定当前迭代参数对应的覆盖立方体数量,并更新迭代参数,并返回更新分形结构判断立方体;若大于,则根据各迭代参数对应的覆盖立方体数量和分形结构判断立方体的边长,确定一线性回归关系,得到斜率的绝对值,确定分形上限尺度;根据该分形上限尺度,确定有机外绝缘表面的分形维度。本发明能够实现对有机外绝缘表面形貌的分形特征的准确分析。
Public/Granted literature
- CN108226573B 一种基于分形理论的有机外绝缘表面形貌分析方法及装置 Public/Granted day:2021-01-08
Information query