- 专利标题: 一种单片磁导计、单片试样测量装置及测量方法
- 专利标题(英): Single-piece permeameter, device for measuring single-piece test sample and measuring method
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申请号: CN201711310589.5申请日: 2017-12-11
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公开(公告)号: CN108226826A公开(公告)日: 2018-06-29
- 发明人: 吴雪 , 杨富尧 , 刘洋 , 高洁 , 程灵 , 何承绪 , 马光 , 韩钰 , 陈新
- 申请人: 全球能源互联网研究院有限公司 , 国家电网公司 , 国网浙江省电力公司
- 申请人地址: 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号; ;
- 专利权人: 全球能源互联网研究院有限公司,国家电网公司,国网浙江省电力公司
- 当前专利权人: 全球能源互联网研究院有限公司,国家电网有限公司,国网浙江省电力公司
- 当前专利权人地址: 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号; ;
- 代理机构: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司
- 代理商 李博洋
- 主分类号: G01R33/12
- IPC分类号: G01R33/12 ; G01R33/02
摘要:
本发明提供了一种单片磁导计、单片试样测量装置及测量方法,该单片磁导计包括:U型双磁轭、框架、初级绕组、H线圈对、次级绕组,其中,框架位于U型双磁轭之间;初级绕组分布于框架上;待测试样设置于框架中,H线圈对位于待测试样下方;次级绕组位于初级绕组内部,次级绕组包括分别绕制的三个子绕组:左侧绕组、中间绕组、右侧绕组,左侧绕组、中间绕组和右侧绕组分别设有输入端口和输出端口,通过接入不同子绕组的输入端口及输出端口,选择接入左侧绕组、中间绕组、右侧绕组中的一个或多个。通过实施本发明,提高了待测试样磁场强度测量的准确性;可以测量待测试样不同区域的磁性能参数,提高了适应性,操作简单方便。
公开/授权文献
- CN108226826B 一种单片磁导计、单片试样测量装置及测量方法 公开/授权日:2020-04-21