- 专利标题: 薄膜晶体管、其制备方法、阵列基板及显示装置
- 专利标题(英): Thin film transistor, preparation method thereof, array substrate and display device
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申请号: CN201810058206.8申请日: 2018-01-22
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公开(公告)号: CN108258021A公开(公告)日: 2018-07-06
- 发明人: 彭俊林 , 王东方 , 王玉亮 , 刘增利
- 申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路10号;
- 专利权人: 京东方科技集团股份有限公司,合肥鑫晟光电科技有限公司
- 当前专利权人: 京东方科技集团股份有限公司,合肥鑫晟光电科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路10号;
- 代理机构: 北京同达信恒知识产权代理有限公司
- 代理商 郭润湘
- 主分类号: H01L27/32
- IPC分类号: H01L27/32 ; H01L29/786 ; H01L21/336
摘要:
本发明公开了一种薄膜晶体管、其制备方法、阵列基板及显示装置,通过在由金属氧化物半导体材料制备的有源层中掺入氧离子与氢离子,调控有源层的阈值电压。在制备薄膜晶体管时,各子刻蚀阻挡层是采用等离子体增强化学气相沉积工艺分步沉积得到的,以在沉积各子刻蚀阻挡层时选择性的使金属氧化物半导体材料掺入氧离子和氢离子,从而调控金属氧化物半导体材料中掺入氧离子的量和掺入氢离子的量。这样可以在不增加额外的掺杂工艺的情况下,使金属氧化物半导体材料掺入氧离子和氢离子,从而可以降低工艺制备难度,降低制备成本。
公开/授权文献
- CN108258021B 薄膜晶体管、其制备方法、阵列基板及显示装置 公开/授权日:2024-04-23
IPC分类: