发明公开
- 专利标题: 天线罩的电性能评估方法及装置
- 专利标题(英): Electrical property evaluation method and device for radome
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申请号: CN201611260531.X申请日: 2016-12-30
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公开(公告)号: CN108268674A公开(公告)日: 2018-07-10
- 发明人: 不公告发明人
- 申请人: 深圳光启高等理工研究院
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区高新区中区高新中一道9号软件大厦2楼
- 专利权人: 深圳光启高等理工研究院
- 当前专利权人: 深圳光启高等理工研究院
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区高新区中区高新中一道9号软件大厦2楼
- 代理机构: 北京德恒律治知识产权代理有限公司
- 代理商 章社杲; 卢军峰
- 主分类号: G06F17/50
- IPC分类号: G06F17/50
摘要:
本发明公开了一种天线罩的电性能评估方法及装置,该天线罩的电性能评估方法包括:根据测量来获取天线辐射近区电场信息,并根据近区电场信息计算出天线的口径面电场信息;获取天线罩的模型数据信息,并根据天线罩的模型数据信息获取天线罩的剖分面元信息;根据天线的口径面电场信息和天线罩的剖分面元信息,计算出天线的远场信息和天线系统的远场信息;根据天线的远场信息及天线系统的远场信息,计算出天线罩的电性能参数信息。通过实际测量天线的辐射近区电场信息,获取到天线的口径面电场信息,进而得到天线罩的性能参数信息,从而在不依靠天线数模输入的情况下,保证计算精度、大大提高了“天线+天线罩”的天线系统电性能评估的可操作性。
公开/授权文献
- CN108268674B 天线罩的电性能评估方法及装置 公开/授权日:2022-04-01