发明授权
- 专利标题: 一种光刻机照明控制测试系统及方法
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申请号: CN201810090765.7申请日: 2018-01-30
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公开(公告)号: CN108279553B公开(公告)日: 2019-06-21
- 发明人: 张友宝 , 马兴华 , 胡小邦 , 谢承科 , 黄立华 , 侯莉颖 , 黄惠杰
- 申请人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 申请人地址: 上海市嘉定区清河路390号
- 专利权人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 当前专利权人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址: 上海市嘉定区清河路390号
- 代理机构: 上海恒慧知识产权代理事务所
- 代理商 张宁展
- 主分类号: G03F7/20
- IPC分类号: G03F7/20
摘要:
本发明公开了一种光刻机照明控制测试系统及方法,控制测试系统包括功能控制模块、性能测试与处理模块、报告生成模块和安全监测模块;测试方法包括对光场性能和光瞳性能进行测试及处理,并将处理结果传输给控制中心模块;根据性能测试与处理结果,生成测试报告,并传输给控制中心模块;对气压信号和互锁信号进行监测,并传输给控制中心模块;接收控制中心模块的指令并执行等步骤。本发明能够快速高效地完成照明系统性能指标测试,并同时自动化给出测试报告,极大提高了集成装调过程的迭代速度。
公开/授权文献
- CN108279553A 一种光刻机照明控制测试系统及方法 公开/授权日:2018-07-13
IPC分类: