发明授权
- 专利标题: 校准系统
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申请号: CN201710839547.4申请日: 2017-09-18
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公开(公告)号: CN108307178B公开(公告)日: 2021-11-09
- 发明人: H.米勒
- 申请人: 艾克松有限责任公司
- 申请人地址: 德国柏林
- 专利权人: 艾克松有限责任公司
- 当前专利权人: 艾克松有限责任公司
- 当前专利权人地址: 德国柏林
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 李萌
- 优先权: 102016217792.3 20160916 DE
- 主分类号: H04N13/246
- IPC分类号: H04N13/246 ; H04N5/232 ; G02B27/62 ; G02B23/24 ; G02B30/35 ; A61B1/045 ; A61B1/00 ; A61B34/20
摘要:
本发明涉及校准立体光学系统的方法和用于光学系统的校准系统。校准系统具有预定参考对象、传感器系统、数据评估模块和图像处理器。数据评估模块设计为接收传感器系统测取的图像数据,并且根据图像数据确定布置在视野中的预定参考对象的至少两个可见参考对象特征的位置信息,以及确定位置数据,位置数据包含通过至少一个参考点确定的、待检查对象的通过所述光学系统提供的图像的位置偏差或在立体光学系统中的第一和第二半图像的位置偏差。图像处理器设计为由参考对象的至少两个可见参考对象特征的位置信息求得光学畸变,并对所接收的图像数据设置相应的几何校正,以及还设计为根据所测得的位置偏差对所接收的图像数据设置相应的偏移。
公开/授权文献
- CN108307178A 校准系统 公开/授权日:2018-07-20