Invention Publication
- Patent Title: 双极器件位移损伤引起的性能退化的等效评价方法
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Application No.: CN201810135800.2Application Date: 2018-02-09
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Publication No.: CN108334706APublication Date: 2018-07-27
- Inventor: 李兴冀 , 杨剑群 , 刘超铭 , 董尚利
- Applicant: 哈尔滨工业大学
- Applicant Address: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- Assignee: 哈尔滨工业大学
- Current Assignee: 哈尔滨工业大学
- Current Assignee Address: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- Agency: 哈尔滨市松花江专利商标事务所
- Agent 毕雅凤
- Main IPC: G06F17/50
- IPC: G06F17/50

Abstract:
双极器件位移损伤引起的性能退化的等效评价方法,涉及在轨双极器件的性能退化评价技术,为了满足针对不同类型辐照源的双极器件辐射损伤进行等效评价的需求。基于地面异种粒子辐照源,确定位移损伤引起的性能退化与位移吸收剂量的函数关系曲线;针对特定轨道和任务要求计算该轨道下的电离吸收剂量DI和位移吸收剂量DD,当双极器件以位移损伤为主时,根据函数关系曲线找到该位移吸收剂量DD所对应的性能退化情况,完成在轨双极器件的性能退化评价。本发明适用于等效评价在轨双极器件的性能退化情况。
Public/Granted literature
- CN108334706B 双极器件位移损伤引起的性能退化的等效评价方法 Public/Granted day:2021-10-01
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