• 专利标题: 光纤激光系统、耐反射性评价方法、耐反射性提高方法以及光纤激光器
  • 申请号: CN201680063439.6
    申请日: 2016-10-26
  • 公开(公告)号: CN108352670A
    公开(公告)日: 2018-07-31
  • 发明人: 柏木正浩
  • 申请人: 株式会社藤仓
  • 申请人地址: 日本东京都
  • 专利权人: 株式会社藤仓
  • 当前专利权人: 株式会社藤仓
  • 当前专利权人地址: 日本东京都
  • 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
  • 代理商 李洋; 王培超
  • 优先权: 2015-214485 2015.10.30 JP
  • 国际申请: PCT/JP2016/081721 2016.10.26
  • 国际公布: WO2017/073609 JA 2017.05.04
  • 进入国家日期: 2018-04-27
  • 主分类号: H01S3/067
  • IPC分类号: H01S3/067 H01S3/00
光纤激光系统、耐反射性评价方法、耐反射性提高方法以及光纤激光器
摘要:
本发明提供一种光纤激光系统、耐反射性评价方法、耐反射性提高方法以及光纤激光器。对使光纤激光系统整体动作的状态下的、各光纤激光器的耐反射性进行评价。光纤激光器(2~4)每一个具有对透过了低反射FBG(26)的激光的功率进行测定的激光测定部(28)、以及对透过了高反射FBG(24)的斯托克斯光的功率进行测定的斯托克斯光测定部(29)。
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