Invention Publication
- Patent Title: 基于光学集成电场传感器的雷电波形参数时域统计方法
- Patent Title (English): Lightning waveform parameter time domain statistical method based on optical integrated electric field sensor
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Application No.: CN201810191513.3Application Date: 2018-03-08
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Publication No.: CN108414846APublication Date: 2018-08-17
- Inventor: 曾嵘 , 蔡汉生 , 刘刚 , 庄池杰 , 王涉 , 施健 , 刘磊
- Applicant: 南方电网科学研究院有限责任公司 , 清华大学 , 中国南方电网有限责任公司电网技术研究中心
- Applicant Address: 广东省广州市萝岗区科学城科翔路11号J1栋3、4、5楼及J3栋3楼
- Assignee: 南方电网科学研究院有限责任公司,清华大学,中国南方电网有限责任公司电网技术研究中心
- Current Assignee: 南方电网科学研究院有限责任公司,清华大学
- Current Assignee Address: 广东省广州市萝岗区科学城科翔路11号J1栋3、4、5楼及J3栋3楼
- Agency: 北京清亦华知识产权代理事务所
- Agent 罗文群
- Main IPC: G01R29/14
- IPC: G01R29/14

Abstract:
本发明涉及一种基于光学集成电场传感器的雷电波形参数时域统计方法,属于波形分析技术领域。本发明方法基于光学集成电场传感器的测量数据,通过滤波、过电压提取、解耦等方法,将三相独立的雷电过电压波形从原始波形中分离出来,并根据IEC中对雷电冲击电压标准波形的波前时间、半峰值时间和过电压倍数的定义,将所测量到的波形参数在时域内进行统计分析。该方法基于光学集成电场传感器,具有安装方便,便于测量的特点。
Public/Granted literature
- CN108414846B 基于光学集成电场传感器的雷电波形参数时域统计方法 Public/Granted day:2020-02-07
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