发明公开
- 专利标题: 一种面板裂纹检测结构及检测方法
- 专利标题(英): Panel crack detecting structure and detecting method
-
申请号: CN201810246646.6申请日: 2018-03-23
-
公开(公告)号: CN108492768A公开(公告)日: 2018-09-04
- 发明人: 张陶然 , 莫再隆 , 周炟 , 代科
- 申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路10号
- 专利权人: 京东方科技集团股份有限公司,成都京东方光电科技有限公司
- 当前专利权人: 京东方科技集团股份有限公司,成都京东方光电科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路10号
- 代理机构: 北京风雅颂专利代理有限公司
- 代理商 朱亲林
- 主分类号: G09G3/3208
- IPC分类号: G09G3/3208 ; G01N27/00
摘要:
本发明公开了一种面板裂纹检测结构及检测方法,所述面板裂纹检测结构包括:具有压降补偿单元的像素驱动电路、设置于面板上的裂纹检测走线以及信号控制单元;所述裂纹检测走线通过第一电源电压端接入到所述像素驱动电路中;所述信号控制单元用于生成面板裂纹检测的检测信号,以对所述压降补偿单元的补偿功能进行削弱或者消除;其中,所述压降补偿单元用于对输入到所述像素驱动电路中的第一电源电压端的压降进行补偿;所述第一电源电压端用于为像素提供阳极电压。本申请能够在不使用开关的情况下有效实现面板裂纹检测,同时不影响面板的电学检测,不仅提高了裂纹检测的效率和准确性,同时能够实现面板的窄边框设计。
公开/授权文献
- CN108492768B 一种面板裂纹检测结构及检测方法 公开/授权日:2020-08-11
IPC分类: