发明公开
CN108560051A 一种具有缓冲层的ZnO薄膜的制备方法
无效 - 撤回
- 专利标题: 一种具有缓冲层的ZnO薄膜的制备方法
- 专利标题(英): Method for preparing ZnO thin films with buffer layers
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申请号: CN201810560607.3申请日: 2018-06-04
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公开(公告)号: CN108560051A公开(公告)日: 2018-09-21
- 发明人: 沈洪雪 , 姚婷婷 , 杨勇 , 李刚
- 申请人: 中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司
- 申请人地址: 安徽省蚌埠市禹会区涂山路1047号
- 专利权人: 中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司
- 当前专利权人: 中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司
- 当前专利权人地址: 安徽省蚌埠市禹会区涂山路1047号
- 代理机构: 安徽省蚌埠博源专利商标事务所
- 代理商 陈俊
- 主分类号: C30B29/16
- IPC分类号: C30B29/16 ; C30B25/06 ; C30B25/18
摘要:
本发明公开一种具有缓冲层的ZnO薄膜的制备方法,包括以下步骤:S1、清洗单晶硅衬底,去除单晶硅衬底表面的油污和杂质;S2、采用磁控溅射设备,以Al靶为靶材,将单晶硅衬底置于磁控溅射设备的真空腔室内,通入溅射气体Ar以及反应气体N2,在单晶硅衬底表面溅镀AlN缓冲层;S3、以Al靶与ZnO靶为靶材,在AlN缓冲层表面溅镀由AlN与ZnO构成的复合缓冲层;S4、以ZnO靶为靶材,在复合缓冲层表面溅镀ZnO膜层,得到具有缓冲层的ZnO薄膜;避免了ZnO膜层直接与单晶硅衬底进行接触,提高了镀制的ZnO膜层的结晶质量;整个过程就是简单的磁控溅射镀膜,过程简单,可控性、重复性较高。
IPC分类: