发明公开
- 专利标题: 用于密封圈老化寿命试验的测试装置及测试方法
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申请号: CN201810670055.1申请日: 2018-06-26
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公开(公告)号: CN108572069A公开(公告)日: 2018-09-25
- 发明人: 孙岗 , 滕明 , 陈允 , 崔博源 , 边智 , 韩占杰 , 孟理华 , 黄爽
- 申请人: 中国航空综合技术研究所 , 国家电网有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司 , 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院
- 申请人地址: 北京市朝阳区东直门外京顺路7号
- 专利权人: 中国航空综合技术研究所,国家电网有限公司,中国电力科学研究院有限公司,国网江苏省电力有限公司电力科学研究院
- 当前专利权人: 中国航空综合技术研究所,国家电网有限公司,中国电力科学研究院有限公司,国网江苏省电力有限公司电力科学研究院
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区东直门外京顺路7号
- 代理机构: 北京孚睿湾知识产权代理事务所
- 代理商 韩燕
- 主分类号: G01M13/00
- IPC分类号: G01M13/00
摘要:
本发明属于机械装备可靠性与寿命测试技术领域,本发明涉及一种用于密封圈老化寿命试验的测试装置,其包括上板、下板和塞圈,塞圈包括第一塞圈和第二塞圈,上板的第一表面上设置有第一沟槽和定位孔,下板的第一表面上设置有第二沟槽和定位销,定位销与上板上的定位孔相互配合,第一沟槽的宽度与第二沟槽的宽度相等,在第二沟槽的第一侧壁设置第一塞圈且第二侧壁上设置第二塞圈,第一塞圈的直径小于第二塞圈的直径,上板和下板上分别设置定位角,上板设置有观察口,观察口沿着第一沟槽的直径方向设置,观察口沿着第一沟槽直径方向的尺寸大于第一沟槽的宽度,上板的第一沟槽内设置均匀分布的测试孔。
公开/授权文献
- CN108572069B 用于密封圈老化寿命试验的测试装置及测试方法 公开/授权日:2023-06-16