发明授权
- 专利标题: 超短脉冲自相关测量装置和测量方法
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申请号: CN201810286116.4申请日: 2018-04-03
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公开(公告)号: CN108593121B公开(公告)日: 2020-02-07
- 发明人: 吴侃 , 肖普山 , 陈建平 , 庞拂飞 , 刘奂奂 , 曾祥龙
- 申请人: 上海交通大学 , 上海大学
- 申请人地址: 上海市闵行区东川路800号
- 专利权人: 上海交通大学,上海大学
- 当前专利权人: 上海交通大学,上海大学
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区东川路800号
- 代理机构: 上海恒慧知识产权代理事务所
- 代理商 张宁展
- 主分类号: G01J11/00
- IPC分类号: G01J11/00
摘要:
一种超短脉冲自相关测量装置和测量方法,该装置包括第一准直透镜、二分之一波片、偏振分光棱镜、第一反射镜、可控延时反射镜、斩光器、第二反射镜、第二准直透镜、碳纳米管饱和吸收体薄膜、光电倍增管、锁相放大器和计算机。本发明通过简单的结构,就可以实现对低功率、低能量的超短脉冲宽度的测量。
公开/授权文献
- CN108593121A 超短脉冲自相关测量装置和测量方法 公开/授权日:2018-09-28