发明授权
- 专利标题： 热障抗烧蚀涂层缺陷的红外热像检测方法
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申请号： CN201810223960.2申请日： 2018-03-19
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公开(公告)号： CN108627539B公开(公告)日： 2020-07-10
- 发明人: 黄鑫 , 牛琛辉 , 刘国辉 , 张保红 , 杜仲 , 周武平 , 王铁军
- 申请人： 安泰天龙钨钼科技有限公司 , 安泰科技股份有限公司
- 申请人地址： 北京市通州区潞城镇胡各庄召里工业区内
- 专利权人： 安泰天龙钨钼科技有限公司,安泰科技股份有限公司
- 当前专利权人： 安泰天龙钨钼科技有限公司,安泰科技股份有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市通州区潞城镇胡各庄召里工业区内
- 代理机构： 北京五洲洋和知识产权代理事务所
- 代理商 刘春成
- 主分类号： G01N25/72
- IPC分类号： G01N25/72
摘要：
本发明公开了一种热障抗烧蚀涂层缺陷的红外热像检测方法，属于无损检测技术领域。该方法包括如下步骤：试样制备步骤、试样检测步骤、参数确定步骤和试件检测步骤。本发明通过上述技术方案，可有效实现热障抗烧蚀涂层结构的非接触无损检测，有效实现热障抗烧蚀涂层缺陷的无损检测，特别是解决了多层复合涂层结构中涂层界面缺陷的定量检测难题，并具有可操作性强和检测效率高的优点。
公开/授权文献
- CN108627539A 热障抗烧蚀涂层缺陷的红外热像检测方法 公开/授权日：2018-10-09
